第一部【企業情報】
第１【企業の概況】
１【主要な経営指標等の推移】
(1）連結経営指標等
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回次 |
第25期 |
第26期 |
第27期 |
第28期 |
第29期 |
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決算年月 |
2018年７月 |
2019年７月 |
2020年７月 |
2020年12月 |
2021年12月 |
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売上高 |
（千円) |
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経常利益又は経常損失（△） |
（千円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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親会社株主に帰属する当期純利益又は親会社株主に帰属する当期純損失（△） |
（千円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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包括利益 |
（千円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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純資産額 |
（千円) |
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総資産額 |
（千円) |
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１株当たり純資産額 |
（円) |
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１株当たり当期純利益又は当期純損失（△） |
（円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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潜在株式調整後１株当たり当期純利益 |
（円) |
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自己資本比率 |
（％) |
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自己資本利益率 |
（％) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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株価収益率 |
（倍) |
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営業活動によるキャッシュ・フロー |
(千円) |
△ |
△ |
△ |
△ |
△ |
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投資活動によるキャッシュ・フロー |
（千円) |
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△ |
△ |
△ |
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財務活動によるキャッシュ・フロー |
(千円) |
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△ |
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△ |
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現金及び現金同等物の期末残高 |
（千円) |
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従業員数 |
（人) |
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（外、パート、派遣社員） |
( |
( |
( |
( |
( |
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（注）１．第25期、第26期、第27期及び第29期の潜在株式調整後１株当たり当期純利益については、潜在株式は存在するものの１株当たり当期純損失であるため記載しておりません。第28期の潜在株式調整後１株当たり当期純利益については、希薄化効果を有している潜在株式が存在していないため記載しておりません。
２．株価収益率については、第25期、第26期、第27期及び第29期においては、親会社株主に帰属する当期純損失であるため記載しておりません。
３．第28期は、決算期変更により2020年８月１日から2020年12月31日までの５か月間となっております。
(2）提出会社の経営指標等
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回次 |
第25期 |
第26期 |
第27期 |
第28期 |
第29期 |
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決算年月 |
2018年７月 |
2019年７月 |
2020年７月 |
2020年12月 |
2021年12月 |
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売上高 |
（千円) |
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経常利益又は経常損失（△） |
（千円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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当期純利益又は当期純損失（△） |
（千円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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資本金 |
（千円) |
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発行済株式総数 |
（株) |
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純資産額 |
（千円) |
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総資産額 |
（千円) |
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１株当たり純資産額 |
（円) |
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１株当たり配当額 |
（円) |
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（うち１株当たり中間配当額） |
( |
( |
( |
( |
( |
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１株当たり当期純利益又は当期純損失（△） |
（円) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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潜在株式調整後１株当たり当期純利益 |
（円) |
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自己資本比率 |
（％) |
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自己資本利益率 |
（％) |
△ |
△ |
△ |
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△ |
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株価収益率 |
（倍) |
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配当性向 |
（％) |
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従業員数 |
（人) |
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（外、パート、派遣社員） |
( |
( |
( |
( |
( |
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株主総利回り |
（％) |
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（比較指標：東証第二部株価指数） |
（％) |
( |
( |
( |
( |
( |
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最高株価 |
（円) |
201 |
162 |
339 |
435 |
347 |
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最低株価 |
（円) |
142 |
86 |
123 |
152 |
175 |
（注）１．売上高には消費税等は含まれておりません。
２．第25期、第26期、第27期及び第29期の潜在株式調整後１株当たり当期純利益については、潜在株式は存在するものの１株当たり当期純損失であるため記載しておりません。第28期の潜在株式調整後１株当たり当期純利益については、希薄化効果を有している潜在株式が存在していないため記載しておりません。
３．株価収益率については、第25期、第26期、第27期及び第29期においては、当期純損失であるため記載しておりません。
４．最高株価及び最低株価は東京証券取引所（市場第二部）におけるものであります。
５．第28期は、決算期変更により2020年８月１日から2020年12月31日までの５か月間となっております。
２【沿革】
(1）会社設立の経緯
当社は、1993年８月横浜市においてウインテスト有限会社を創業、自動検査装置WTS-101Aの開発を開始し、その後、資金調達を行い1995年７月ウインテスト株式会社（資本金10,000千円）を横浜市中区花咲町に設立、量産初代装置となるWTS-103Cの開発によって、その後業容を拡大、2003年ベストセラー機となるWTS-311の開発に成功、販売を開始し2003年９月東証マザーズ市場に上場いたしました。
(2）事業内容の変遷
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年月 |
事業内容 |
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1993年８月 |
ウインテスト有限会社（横浜市中区）を設立、検査装置の開発開始 |
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1995年６月 |
低温ポリシリコンTFTアレイ検査用WTS-103C CCD/LCD自動検査装置をセイワ技研と共同開発 |
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1995年７月 |
組織変更し、横浜市中区花咲町にウインテスト株式会社を設立 |
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1998年３月 |
本社を横浜市中区曙町に移転 |
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1999年５月 |
資本金を4,000万円に増資 |
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2000年３月 |
海外（韓国・台湾）における販売活動の開始 |
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2000年10月 |
資本金を2億3,500万円に増資（第三者割当増資） |
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2001年５月 |
ISO14001：1996（登録番号 E01-194）国際環境規格を取得 |
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2003年５月 |
ベストセラー機、WTS-311 CCD/LCD自動検査装置を米国PEI社の協力の下に開発 |
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2003年９月 |
東京証券取引所マザーズに株式を上場 |
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2004年２月 |
本社を横浜市西区北幸に移転 |
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2006年３月 |
米国PEI社製WTS-700 アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置の販売とサポートを開始 |
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2008年３月 |
株式会社タカトリと業務資本提携契約を締結し資本金を9億9,710万円に増資（第三者割当） |
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2008年12月 |
米国PEI社と共同でWTS-750/800 アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置を開発、販売を開始 |
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2009年９月 |
山田電音株式会社と業務提携契約を締結 |
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2009年12月 |
山田電音株式会社のSXLIIをベースにWTS-577 LCDドライバIC自動検査装置を開発、販売を開始 |
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2010年４月 |
本社を横浜市西区平沼に移転 |
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2010年12月 |
WTS-377 小型CMOSイメージセンサー自動検査装置を開発、販売を開始（多数個同時測定） |
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WTS-311NX 一眼レフ向け高品質CMOSイメージセンサー自動検査装置を開発、販売を開始 |
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2014年12月 |
マザーズ上場規則による上場市場の選択に基づき、東京証券取引所市場第二部へ市場変更 |
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2015年10月 |
監査等委員会設置会社へ移行 |
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2017年５月 |
株式会社りょうしんメンテナンスサービス（現オランジュ株式会社）の株式100%取得、連結子会社化 |
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2018年６月 |
フィンランド アンフィオンラウドスピーカー社とのハイエンドスピーカー総代理店契約締結 |
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2019年３月 |
山田電音株式会社の半導体事業を譲受け大阪事業所を開設（ファブレスから自社製造工場所有へ） |
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2019年９月 |
武漢精測電子集団股份有限公司と資本提携契約を締結し資本金を29億5,432万円に増資（第三者割当） |
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2019年12月 |
偉恩測試技術（武漢）有限公司（100%子会社）設立、稼働開始は2020年１月１日 |
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2020年10月 |
ディスプレイ・ドライバIC向け検査装置「WTS-577SR」を開発販売開始 |
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2021年３月 |
資本金を10億円に減資 |
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2021年10月 |
子会社「オランジュ株式会社」の全株式を譲渡 |
３【事業の内容】
当社グループは、主業務とする半導体検査市場において大きな市場の成長が続く中国市場へ対応するため、2019年３月に大阪事業所を開設、検査装置の開発及び製造体制強化に加えて、2020年１月に中国での製造拠点を開設しました。これにより、技術面での弱点であったファブレスから製造能力を持つことで、技術の蓄積が可能となり、市場開拓の要となる顧客からの信頼強化ができました。また世界的な環境問題となるCO2の削減が叫ばれるなか、従来同様検査装置比較で大幅な低電力動作を可能とするWTS-577シリーズを開発し市場に供給しております。当社グループは、半導体検査装置事業を主とする横浜本社及び大阪事業所、そして中国の製造販売子会社で構成されております。
(1）半導体検査装置事業
①半導体検査装置事業について
当社は、先端ロジックIC、イメージセンサーIC、ディスプレイ-アレイ並びにディスプレイドライバICの製造工程の各検査工程に使用される検査装置の開発、製造、販売、貸与並びに技術サポートを展開しています。
当社装置は、イメージセンサーIC及びディスプレイドライバICについてはシリコンウェーハ検査からパッケージ完成品検査まで、ディスプレイ-アレイについては、アレイ検査から光学検査まで幅広くカバーが可能です。以下に各製造工程における検査を示します。なお、当社の検査装置は、網掛けされている各検査工程で用いられます。
A. ＜先端ロジック、イメージセンサー、ディスプレイドライバIC製造工程＞
B.＜ディスプレイ製造工程＞
当社の半導体検査装置は上記A.の工程に導入され、前工程と呼ばれるウエーハ工程での検査並びに後工程と呼ばれるIC組立後のパッケージ検査の両工程に導入され使われています。
また当社の親会社となる武漢精測電子集団股份有限公司の検査装置は、主にB.のモジュール表示検査工程で使われています。
＜製品とデバイス検査の関係表＞
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デバイス |
機能 |
製品モデル |
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イメージセンサー |
シリコンウエーハ検査 |
WTS-311NX、新型装置（2022年末予定） |
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パッケージ検査 |
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有機EL、液晶ディスプレイ |
TFTアレイ検査 |
WTS-311NXL |
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ディスプレイドライバIC 先端ロジックIC |
シリコンウエーハ検査 |
WTS-577SR、新型装置（2022年末予定） |
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パッケージ検査 |
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フラッシュMEMORY等（予定） |
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開発計画中 |
（注）１．WTS-311NXシリーズ：一眼レフなどの大型高精細イメージセンサーIC検査装置です。
２．WTS-311NXLシリーズ：有機EL、低温/高温ポリシリコン液晶等のディスプレイのアレイ検査装置です。
３．WTS-577SRシリーズ：LCD及び有機ELドライバIC、先端ロジックIC検査対応、省電力、高速、高精度検査装置です。
②当社製品の特徴について
＜検査装置の汎用性＞
当社の検査装置は、半導体の電気的検査を必要とする全ての工程で、被測定ICに対応したテストパッケージとプローブカード（ソケット）を用意するだけであらゆる検査対応が可能で汎用性に富んだ構成をとっております。
＜イメージセンサーの検査＞
当社のイメージセンサーの検査装置は業界最大画素検査能力（3億8千万画素までの取り込みと一括検査）を持ち、業界で唯一の一眼レフ専用設計（大判センサー）とするWTS-311NXとスマホ等で必要とされる小型センサー向け多数個同時測定能力を持つWTS-377シリーズとなります。両装置とも色むら検査を可能としています。またWTS-311NXでは、話題となっているTOF検査も当社開発の専用光源を組み合わせることで可能としております。
＜ディスプレイのアレイ検査＞
低温/高温ポリシリコン型TFT液晶の画素には、画素スイッチと微小な保持容量で形成される画素回路があります。また、これらを総称してアレイと呼びます。アレイの周りには周辺回路と呼ばれるドライバー回路、DAコンバータ等があります。当社の製品は、高速応答する画素回路並びに周辺回路を電気的に検査するアレイ検査に特徴があります。特に、低温/高温ポリシリコン型TFT液晶は、デバイスや周辺回路における電子の動作速度が速い上に画素の保持容量が小さく困難な検査の一つです。
当社は、このアレイ検査を確立し、ポリシリコン、シリコン両タイプのディスプレイのアレイ検査で強みを発揮していると考えております。また、有機ELディスプレイの測定方法については、既に特許２件を取得しており、測定技術を確立しています。
＜ディスプレイドライバーIC検査＞
有機ELを含むすべての液晶の画素はLCDドライバーICと呼ばれる素子で画素が駆動されることで綺麗な画像を表示します。液晶や有機ELはこのLCDドライバーからの微小な信号変化を受けて微妙な明るさ（色合い）の変化を起こします。従ってLCDドライバーには非常に正確な信号の出力が求められるのと同時に、高画素化により膨大な信号量を決まった時間内に送る高速化の技術が必須となってまいりました。
当社はこのLCDドライバーの検査において、高速信号転送技術及び高速データ処理技術を開発し、競合に比較しローコストで高速、かつ正確な検査を提供、また開発した高速データ伝送技術は、今後主流となる４K/８Kのディスプレイ向けICの検査に対応しています。また、ディスプレイデバイスの薄型化を実現する上で必須となる、TDDI（タッチパネル機能を融合したパネル）検査機能を持たせ、ディスプレイドライバー部分の検査とTDDIの検査をワンタッチで行える機能を準備、検査時間の低減を提案しています。同時に同装置の高速ロジック機能を活用した、先端高速ロジックIC検査にも対応することが可能です。
＜技術サポート＞
当社は、当社製品の導入から試作、量産立ち上げまで、顧客に徹底した技術サポートを行なっております。当社製品導入後のアフターサポートにおいては、ローカライズを基本戦略とし、台湾は蔚華科技股份有限公司（以下、「スパイロックス社」という。）にサポートを委託し、中国国内はスパイロックス社の蘇州サービスセンター及び当社中国の子会社である偉恩測試技術（武漢）有限公司（以下、「ウインテスト武漢」という。）から直接素早い顧客対応を行なうことを基本としています。当社では、顧客にとって最大のメリットを得られるサービスが何かを常に考えながらサポートすることを心がけております。
③ウインテスト武漢（中国湖北省武漢市）及び大阪事業所の開設について
当社は、「中国製造2025と関連政策・計画」（平成30年３月経済産業省）で報告されているように、今後中国における急峻な半導体産業の伸びと熟成（製造強国へのロードマップ）を鑑み、2020年１月に中国市場への本格進出を目的として、量産ができる製造工場を武漢市に設立いたしました。また、大阪事業所（開発、製造、組立）の能力の増強行いました。これにより、既存装置の量産、改良及び改版はウインテスト武漢工場で行い、大阪事業所は、次世代装置の開発に集中できる環境を構築することができました。精密電子基板の修理等、既存装置につきましては、ウインテスト武漢の責任とし、大阪事業所は、次世代開発に集中することとしております。大幅な製造のコストダウン及び製造スピード並びに品質の向上を実現し、市場ニーズに合致した新製品の開発スピード向上が現実のものとなり、中国市場への展開を加速できる環境が整いました。
４【関係会社の状況】
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名称 |
住所 |
資本金 |
主要な事業の内容 |
議決権の所有割合又は被所有割合（％） |
関係内容 |
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（親会社） 武漢精測電子集団股份有限公司 （注）２．３ |
中華人民共和国湖北省武漢市 |
246,704千 人民元 |
半導体検査装置事業 |
被所有 60.53
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製品の販売役員の兼任２名 |
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（連結子会社） 偉恩測試技術（武漢）有限公司 （注）１．２．３ |
中華人民共和国湖北省武漢市 |
50,000千 人民元 |
半導体検査装置事業 |
所有 100.0 |
役員の兼任２名 |
（注）１．特定子会社に該当しております。
２．有価証券届出書又は有価証券報告書を提出している会社ではありません。
３．主要な事業の内容欄には、事業の種類別セグメントの名称を記載しております。
４．前連結会計年度において連結子会社であったオランジュ株式会社については、当連結会計年度において、所有する全株式を売却したことに伴い、連結の範囲から除外しております。
５【従業員の状況】
(1）連結会社の状況
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2021年12月31日現在 |
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セグメントの名称 |
従業員数（人） |
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半導体検査装置事業 |
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（ |
|
新エネルギー関連事業 |
|
（ |
|
合計 |
|
（ |
（注）１．従業員数は就業人員であり、嘱託、パート社員は（ ）内に外数で記載しております。
(2）提出会社の状況
業務部門別の従業員数を示すと、次のとおりです。
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2021年12月31日現在 |
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業務部門別 |
従業員数（人） |
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開発部門 |
43 |
（7） |
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営業部門 |
5 |
(－) |
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管理部門 |
13 |
（2） |
|
合計 |
|
（ |
（注）１．従業員数は就業人員であり、嘱託、パート社員は（ ）内に外数で記載しております。
２．管理部門は、総務、経理、財務、経営企画室及びCSR室を包括する部門です。
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|
|
|
|
|
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2021年12月31日現在 |
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従業員数（人） |
平均年齢 |
平均勤続年数 |
平均年間給与（円） |
|||
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（ |
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|
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（注）１．従業員数は就業人員であり、嘱託、パート社員は（ ）内に外数で記載しております。
(3）労働組合の状況
労使関係については特に記載すべき事項はありません。