| 1. 특허명칭 | 고속 번인 테스트 장치 및 방법 |
| 2. 특허 주요내용 |
종래에는 번인 테스트 시간을 단축하기위해 2개의 페일 메모리를 구비하여 테스트 실행부와 프로세서가 각각의 페일 메모리에 접근하여 데이터를 동시에 처리하게
함으로써 대기 시간을 줄여 테스트 시간을 단축할 수 있었지만 이는 페일 메모리를 추가 구비해야 하므로 공간과 비용에 대한 부담이 증가한다는 단점이 있었습니다. 이번 발명을 통하여 1개의 페일 메모리를 사용하면서도 피시험 디바이스의 불량 테스트 및 분석을 빠르고 안정 되게 수행할 수 있게 되었습니다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2019-08-19 |
| 5. 특허 활용계획 | 해당 특허는 당사의 고속 번인테스트 제품의 성능 향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2019-08-19 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일
입니다. - 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2018-0043560 |