| 1. 특허명칭 | 반도체 메모리 모듈의 에이징 검사 장치 |
| 2. 특허 주요내용 |
본 발명은 반도체 메모리 모듈의 에이징 검사 장치에
관한 것으로서, 이를 통하여 챔버의 전체 내부 공간에 균일한 온도가 유지되고 챔버 내의 모든 반도체 메모리 모듈이 골고루 일정한 온도의 에어를 전달 받도록 함으로써 테스트 정보의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. |
| 3. 특허권자 | (주)엑시콘, (사)엑시콘산학공동연구소 |
| 4. 특허취득일자 | 2019-10-10 |
| 5. 특허 활용계획 |
해당 특허는 당사의 모든 에이징 테스트 장비의 성능
향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2019-10-10 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일임.
- 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2018-0094135 |