| 1. 특허명칭 | 반도체 디바이스의 테스트 보드 및 방법 |
| 2. 특허 주요내용 |
본 발명은 반도체 디바이스 테스트 보드의 복수개의
전력 변환부를 각각 개별적이고 순차적으로 전원 공급 상태를 검사하여 파워 동작에 이상이 발생할 경우 전력 변환부를 비활성화하고 외부 전원 공급을 차단함으로써 테스트 보드 및 반도체 디바이스를 보호하고 반도체 테스트 성능을 향상시키는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | (주)엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2020-04-13 |
| 5. 특허 활용계획 |
해당 특허는 당사의 모든 테스트 장비의 성능 향상 및
신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2020-04-13 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일임.
- 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2018-0167148 |