| 1. 특허명칭 | 반도체 소자의 테스트를 위한 고속 클럭 동기 회로 |
| 2. 특허 주요내용 |
본 발명은 반도체 소자를 테스트 하기 위한 고속 클럭
동기 회로에 관한 것으로서 먹스(MUX) 및 딜레이 버퍼 (Delay buffer)를 이용하여 FPGA와 동기화된 고속 테스트 신호(Synchronized high-speed test signals)를 생성함으로써 테스트 시간을 단축하고 신뢰성 있는 테스트 결과를 얻는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2020-04-24 |
| 5. 특허 활용계획 |
해당 특허는 당사의 모든 반도체 검사 장비의 성능
향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2020-04-24 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일임.
- 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2018-0171386 |