| 1. 특허명칭 | 시스템 온 칩(SoC) 테스트 시스템 및 그의 테스트 방법 |
| 2. 특허 주요내용 |
본 발명은 CIS(cmos image sensor), DDI(display driver integrated circuit), PMIC(power management integrated
circuit), AP(application processor) 등의 시스템 온 칩(SoC)을 범용적으로 테스트할 수 있는 시스템 온 칩(SoC) 테스트 시스템 및 그의 테스트 방법에 관한 것으로 각각의 테스트 플랫폼 상호간에 호환성을 제공하는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | (주)엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2020-08-31 |
| 5. 특허 활용계획 |
해당 특허는 당사의 비메모리 테스터의 성능 향상 및
신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2020-08-31 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일임.
- 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2019-0048634 |