| 1. 특허명칭 | 신호 라인 길이를 산정하는 SoC 테스트 장치 |
| 2. 특허 주요내용 |
본 발명은 신호 수신부의 반사파가 발생시킨 송신 신호와 수신 신호 간의 지연 시간 차이(Delay time difference)를 결정하여 SoC 테스트 장치에 연결되어 있는 하이픽스 (Hi-Fix)보드, PIB(Probe Interface Board), 프로브 카드(Probe card), SoC(System on Chip)의 각각에 대한
물리적 신호 라인 길이를 자동으로 산정함으로써 테스트의 신속성 및 정확성을 도모 하는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | (주)엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2020-11-10 |
| 5. 특허 활용계획 | 해당 특허는 당사의 비메모리(SoC) 테스터의 성능 향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2020-11-10 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일임.
- 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2019-0057940 |