| 1. 특허명칭 | 진단 디바이스가 구비된 반도체 디바이스 테스트 장치 |
| 2. 특허 주요내용 | 반도체 테스트장비 내에 진단 디바이스를 구비하여 디바이스 테스트장치 자체를 진단함으로써 테스트장비를 자가 진단하고 검증의 신뢰성을 높이는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2021-11-10 |
| 5. 특허 활용계획 | 해당 특허는 SoC Tester 등 당사의 모든 반도체 검사장비의 성능향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2021-11-10 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일입니다. - 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2020-0086748 |