| 1. 특허명칭 | 온도 제어 지그를 통한 카메라 모듈 해상력 검사 장치 |
| 2. 특허 주요내용 |
본 발명은 온도 제어 지그를 이용하여 카메라 모듈의 발열 현상을 억제함으로써, 카메라 모듈의 해상력 저하에 따른 재검사율을 저하시킬 수 있는 카메라 모듈 해상력 검사 장치를 제공하는데 있습니다.
일례로, 본 발명의 다양한 실시예는 이미지 센서가 안착되는 열전도 블럭의 온도와 설정 온도를 입력받고, 이의 편차값을 이용하여 냉각부를 PID 제어 및 PWM 제어함으로써, 카메라 모듈의 해상력 테스트 시 이미지 센서의 온도가 일정한 범위로 유지되도록 할 수 있습니다. |
| 3. 특허권자 | ㈜하이비젼시스템 |
| 4. 특허취득일자 | 2019-12-23 |
| 5. 특허 활용계획 | 자사제품 적용 |
| 6. 확인일자 | 2019-12-23 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 |
- 상기 특허취득일자 및 확인일자는 특허등록료 납부일 기준입니다.
- 출원번호 : 10-2018-0036575 |